InP 厚膜における楕円偏光Z-scan 法による3 次非線形感受率テンソル実部の測定精度向上の検討

摘要

我々はこれまで、偏光状態を変えたZ-scan 法にてInP の3 次非線形感受率テンソルχ~((3))の、虚部及び実部を測定してきた。Re[χ~((3))] に起因する非線形屈折率_2 は、有限開口Z-scan法を用いて測定できる。我々は、InP のn_2 の評価精度の向上を目的として、測定条件の最適化を検討し、特定の条件で目標とする三桁程度の精度を達成した。そこで本研究では、楕円偏光Z-scan 法により、InP のRe[χ~((3))] を高精度にて求めることを目的とした。