Studies of Micron Order Defects in Quartz by a High Angular Resolved X-Ray Small Angle Scattering Technique

摘要

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著录项

• 来源
  《34th Annual Symposium on Frequency Control. 1980》||p.14-24|共11页
• 会议地点
• 作者

  Suzuki C.K.; Iwasaki F.; Kohra K.;

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