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Low Leakage Current Mesa-type Avalanche Photodiodes with Zn-diffused Sidewall

机译:具有锌扩散侧壁的低泄漏电流台面型雪崩光电二极管

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摘要

We report suppression of sidewall leakage current by up to two orders of magnitude in InGaAs / InP mesa-type avalanche photodiodes with a p-type sidewall formed by Zn diffusion, compared to reference devices without a p-type sidewall on the same wafer.
机译:与在同一晶圆上没有p型侧壁的参考器件相比,我们报告了在具有由Zn扩散形成的p型侧壁的InGaAs / InP台面型雪崩光电二极管中,侧壁泄漏电流的抑制高达两个数量级。

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