Negative bias temperature instability; Thermal variables control; Integrated circuit modeling; Multiplexing; Degradation; Threshold voltage; Reliability;
机译:NBTI / PBTI对纳米CMOS中具有高k金属栅极器件的多米诺逻辑电路性能的影响
机译:NBTI / PBTI对时序控制电路的影响以及纳米级CMOS SRAM中的耐劣化设计
机译:用于NBTI和PBTI弹性SRAM设计的反应性和片上传感器电路
机译:振铃振荡器电路结构,用于测量孤立的NBTI / PBTI效应
机译:研究氧化物击穿,热载流子和NBTI对MOS器件和电路可靠性的影响。
机译:神经回路:离子通道噪声对神经回路的影响:在呼吸模式发生器上的应用用于研究呼吸变异性
机译:用于NBTI和PBTI弹性SRAM设计的反应性和片上传感器电路
机译:集成电路和分组交换复用结构的数据业务性能