Cyclic redundancy check; Runtime; Nonvolatile memory; Random access memory; Energy harvesting; Transient analysis;
机译:SRAM中备用电源电压的硅后调整,以减少由于参数数据保留故障而导致的良率损失
机译:基于高效的基于小波的瞬态电流测试,了解SRAM中数据保留故障的检测
机译:使用特殊的DFT电路测试CMOS SRAM中的数据保留故障
机译:SRAM数据保留的动态行为和0.6V 32nm LP SRAM的新型瞬态电压崩溃技术
机译:使用等待时间插入方法对不规则芯片上配电网络中的电源噪声进行瞬态仿真,并对以频带有限的数据为特征并由任意端接终止的互连进行因果瞬态仿真。
机译:具有学习卫生系统方法的实施团队能力:利用数据来提高短暂性缺血攻击的护理质量
机译:2 sRam存储器中的数据保留错误:分析和检测程序*