ミリ波帯集束•平行ビーム共用測定系におけるレンズアンテナ系設計とビーム焦点の電界分布測定

摘要

主にミリ波帯での材料定数測定法として用いられる集束ビーム法と平行ビーム法は材料の異方性やファラデー回転の評価に利用できるが2つの測定法にはそれぞれ利点•欠点が存在する.そこでMUTによって集束•平行ビーム法が選択可能で等方性のみならず異方性材料をも測定可能な測定系を構築し，評価することを目指している.先の報告では、MUTの伝送•反射特性のより正確な計算手順を提示し、ビームを集束するためのテフロンレンズの設計を行った.本報告では，まず電磁界解析を利用してフィードアンテナの設計を行った.第2に集束ビームの焦点付近の電界分布を測定し，レンズアンテナ系の軸合わせを行うとともに集束ビームの形成を確認した.第3にレンズの平坦表面にλ/4整合層としての溝付け加工を施し，反射低減を行った.