首页> 外文会议>IEEE Radiation Effects Data Workshop >Total Ionizing Dose and Dose Rate Effects in Candidate Spacecraft Electronic Devices
【24h】

Total Ionizing Dose and Dose Rate Effects in Candidate Spacecraft Electronic Devices

机译:候选航天器电子设备中的总电离剂量和剂量率效应

获取原文

摘要

Total dose tests of common devices reveal unexpected dose rate sensitivity. Devices from the same vendor procured to SMD versus military specifications exhibit substantially different dose rate effects. Behavior and critical parameters are compared and discussed.
机译:共同器件的总剂量试验显示出意外剂量率敏感性。来自与SMD的相同供应商的设备与军事规范具有显着不同的剂量率效应。比较和讨论行为和关键参数。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号