ATPG-Automatic Test Pattern Generation; BS-LFSR-Bitswapping Linear Feedback Shift Register; CUT-Circuit Under Test; LOC-Launch-Off-Capture; SOC-System-On-Chip; VLSI-Very Large Scale Integration;
机译:使用零抑制决策图测试多种故障的功率降低和测试模式生成
机译:转换故障测试中功率最小化技术的回顾
机译:在扫描测试期间生成用于最小化功率的主输入阻塞模式
机译:过渡故障测试模式生成以使用BS-LFSR和LOC最小化电源
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:基于环形计数器的ATPG用于低转换测试模式生成
机译:使用BS-LFSR和LOC的低功耗的过渡故障测试模式生成
机译:基于VHDL故障仿真可行性的故障仿真,故障分级和测试模式生成技术综述。