codes; field programmable gate arrays; logic design; logic testing; FPGA realization; STC; codewords; incomplete m-out-of-n codes; self-testing checker design; Built-in self-test; Circuit faults; Computers; Educational institutions; Field programmable gate arrays; Single event upsets;
机译:m出n码的最低级别PLA自检检查器的设计
机译:用于n出n码的低成本模块化完全自检校验器设计
机译:UED和BUED代码的嵌入式自测试检查器的设计
机译:用于不完整M-OUT-N-N个代码的自测检查器设计
机译:(22、33、12、8、4)平衡的不完整块设计的点代码。
机译:针对不完整多媒体数据的聚类和恢复的优化设计的变分自动编码器网络
机译:某些系统单向错误检测代码的编码器和自检检查器的设计*
机译:基于最优输入分区的m-out-of-N代码TsC检查器的实现