Temperature measurement; Films; Positron emission tomography; Conductivity; Current measurement; Insulation; Conductivity measurement;
机译:非等温气泡上升:表面张力对温度的非单调依赖性
机译:技术尺度对亚四分之一微米MOSFET漏电流热行为的影响:低温电流测试的角度
机译:4H-SiC上热生长氧化物漏电流传导机理的温度依赖性分析
机译:热循环过程中泄漏电流与温度的非单调依赖关系的观察
机译:在二氧化f和基于二氧化硅的金属氧化物-硅结构中,与偏置温度不稳定性和应力引起的泄漏电流有关的缺陷的磁共振观察。
机译:砷化硼热导率的非单调压力依赖性
机译:非等温气泡上升:表面张力对温度的非单调依赖性
机译:UHTREX中热中子泄漏的温度依赖性