Anisotropic structure induced electrical properties of a-plane InN

机译：各向异性结构诱导A-Plane Inn的电气性质

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Terahertz spectroscopy reveals that the anisotropic electrical properties of nonpolar InN film along in-plane c-axis and in-plane m-axis are determined by the orientation of narrow and thin stacking faults, not by the density of defects.

机译：太赫兹光谱揭示了非极性IN膜沿着面内C轴和面内M轴的各向异性电性能由窄且薄的堆叠故障的方向决定，而不是通过缺陷的密度来确定。

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来源
《Conference on Lasers and Electro-Optics》|2013年||共2页
会议地点
作者
Chang P.-H.; Chia J.-W.; Gwo S.; Ahn H.;
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会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类激光技术、微波激射技术;
关键词
入库时间 2022-08-21 05:01:07

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