automatic test pattern generation; integrated circuit testing; microprocessor chips; system-on-chip; AMD Athlon processor; ATPG experiments; CPU chip; SOC-style test partitioning; monolithic microprocessor design; partitioning granularity; test cost reduction;
机译:解释美国玉米乙醇加工成本的降低:检验竞争假设
机译:减少测试套件的方法,通过确定不可替代的测试来降低回归测试的成本
机译:测试,测试,1、2、3:注意:测试设备和测试服务供应商开发了仪器,方法和服务,以简化流程,缩短上市时间并降低设备OEM的成本。
机译:使用测试分区测试AMD™Athlon处理器的成本降低
机译:基于区域划分测试的集成电路中降低发射和捕获功率的可测试性支持设计。
机译:图形处理单元的多维度降维可对散发ALS中的上位性进行基因组范围的测试
机译:降低逻辑电路的测试成本-减少测试数据量和测试应用时间-