Physically Unclonable Function; SRAM PUF; reliability; Negative Bias Temperature Instability; Burn-in;
机译:波分多路复用半导体激光器的老化老化行为和分析模型:快速老化可以长期保证可靠性吗?
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机译:利用电压偏置技术调整SRAM单元的大小,以增强存储器和PUF功能的可靠性?
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机译:电阻断层扫描碳纤维增强聚合物材料中增强损伤识别的导波致动
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机译:采用电压偏置技术确定sRam单元的大小,增强存储器和pUF功能的可靠性
机译:使用热电联产提高建筑物可靠性和弹性的指南。