首页> 外文会议>China Semiconductor Technology International Conference >The application of the Smoluchowski effect to explain the current-voltage characteristics of high-k MIM capacitors
【24h】

The application of the Smoluchowski effect to explain the current-voltage characteristics of high-k MIM capacitors

机译:SMOLUCHOWSKI效应的应用解释高k MIM电容器的电流 - 电压特性

获取原文
获取外文期刊封面目录资料

摘要

In this paper, the Smoluchoski effect will be explained and is further used to understand the physics of the current-voltage (I–V) characteristics of high-k MIM capacitors in mixed-signal CMOS technology application.
机译:在本文中,将解释SMOLUCHOSKI效果,并进一步用于了解混合信号CMOS技术应用中的高k MIM电容器的电流 - 电压(I-V)特性的物理学。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号