arithmetic circuit; bound-depth circuit; derandomization; polynomial identity testing;
机译:多线性常数读取公式的去随机多项式身份检验
机译:多线性有界读公式的确定性多项式身份检验
机译:对多项式身份测试进行非随机化意味着证明电路的下限
机译:多线性常数读公式的嘲弄多项式特性测试
机译:去随机化隔离和多项式身份测试
机译:多线性多项式具有广义导数的两面歼灭条件
机译:几何复杂性理论V:多项式同一性测试的黑盒去随机化与Noether标准化引理的去随机化之间的等价性