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【24h】

High power microwave pulse impact on an all-dielectric lithium niobate modulator

机译:高功率微波脉冲对全介电铌酸锂调制器的影响

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摘要

Measurements and multiphysics simulations of all-dielectric LiNbO3 grating modulators exposed to high power microwave pulses were conducted. Thinned substrate devices exposed to 180kV/cm fields show no significant degradation in measured optical spectrum or link gain.
机译:对暴露于高功率微波脉冲的全介电LiNbO 3 光栅调制器进行了测量和多物理场模拟。暴露于180kV / cm场的变薄基板设备在测量的光谱或链路增益方面没有显着降低。

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