SEE; SET; combinational logic; neutron; single event effects; single event transient; soft errors;
机译:使用重离子,质子和脉冲激光在DC / DC脉宽调制器上进行单事件瞬态测量
机译:65 nm体CMOS电路的单事件瞬态脉冲宽度测量
机译:总剂量对单事件瞬态(SET)脉冲宽度测量技术的影响
机译:中子诱发的单事件瞬态脉冲宽度小于100ps的测量
机译:先进CMOS技术中重离子,中子和α粒子诱导的单事件瞬态脉冲宽度的表征。
机译:脉冲激发下血浆纳米粒子的光热效应的瞬态增强和光谱缩小
机译:源电荷收集和寄生双极效应对65nm单事件瞬态脉冲宽度的影响