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Performance evaluation of multiple-valued logic circuits using statistical approach

机译：使用统计方法评估多值逻辑电路的性能

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来源
《Electrical and Computer Engineering, 2005. Canadian Conference on》|2005年|P.300-303|共4页
会议地点
作者
Teng D.H.Y.; Bolton R.J.;
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正文语种
中图分类工业技术;
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