design for testability; integrated circuit design; integrated circuit testing; microprocessor chips; automatic test equipment; peripheral interfaces; high-speed integrated circuits; functional testing elimination; interface timings; Intel Pentium/sup /spl reg// 4 processor; DFT circuitry; design for test; ATE; automatic test equipment; lower capability structural test platforms; circuit implementations; HVM data; high volume manufacturing data; high speed serial interfaces;
机译:通过使用自然语言处理来提高智能。 NLP界面和传统可视GIS界面之间的比较。
机译:接口消除了传统自动化系统的边界
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机译:取消英特尔界面定时的传统功能性测试
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机译:横向移动的功能化的自组装的氟水界面的插件基于微流体系统单层膜:表征和测试与膜蛋白结晶
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