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Testing Embedded Memories: Is Bist The Ultimate Solution? Testing Of Embedded Memories-the Aggregate

机译：测试嵌入式内存：Bist是最终解决方案吗？嵌入式内存测试-汇总

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来源
《Test Symposium, 1998. ATS '98. Proceedings. Seventh Asian》|1998年|P.519-519|共1页
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作者
Makki; R.Z.;
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正文语种
中图分类无线电电子学、电信技术;
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