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Design of polarized light interference microscopy

机译:偏振光干涉显微镜的设计

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摘要

Abstract: A novel equivalent optical path polarized light interference microscopy has been designed which provides two attractive properties of the perfect bright-field background techniques. This microscopy is suitable for detecting the phase objects and microdamage spots or inclusions in the transparent optical materials. !4
机译:摘要:设计了一种新颖的等效光路偏振光干涉显微镜,它提供了完美的明场背景技术的两个吸引人的特性。该显微镜适用于检测透明光学材料中的相位对象和微损伤点或夹杂物。 !4

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