机译:带电薄膜顶部和底部的非接触表面电荷密度分布测量
机译:测量电晕充电的聚合物箔驻极体的电势和衰减,表面电荷密度和充电电流
机译:通过荧光乳胶球的图像分析测量静电沉积粉末层的表面形貌,堆积密度和表面电荷分布
机译:非接触表面电荷密度曲线测量在带电薄膜的顶部和底部
机译:使用电荷交换复合光谱仪在DIII-D托卡马克上测量绝对氦离子密度分布。
机译:同时测量多层膜结构中的上表面及其下层膜表面
机译:金电极电晕电荷聚乙烯薄膜中的电荷注入:表面电位衰减和电晕充电电流测量
机译:冰中的带电错位。 I.通过X射线形貌测量存在和电荷密度