Capacitors; Linearity; Testing; Noise measurement; Switches; Size measurement; Topology;
机译:使用嵌入式增量式
机译:使用嵌入的增量
机译:65nm CMOS斜坡发生器设计及其在流水线ADC的降码静态线性测试技术的BIST实现中的应用
机译:使用内置增量ΣΔ转换器的SAR ADC的缩减码静态线性测试
机译:适用于片上实施和ADC内置自检解决方案的技术,可实现低成本和准确的ADC测试
机译:使用完美的导电和导磁表面设计完美的线性极化转换器
机译:使用内置结构的A / D和D / A转换器的同时静态测试