DRAM chips; Proposals; Runtime; Reliability; Servers; Authentication;
机译:商品设备上的快速DRAM PUFS
机译:商品设备中基于衰减的DRAM PUF
机译:商品设备中衰减的DRAM PUFS
机译:DRAM延迟PUF:通过利用现代商品DRAM设备中的延迟可靠性权衡来快速评估物理不可渗透功能
机译:DRAM / eDRAM和3D-DRAM的省电方法,利用工艺变化,温度变化,设备降级和内存访问工作负载变化,以及使用具有服务质量的3D-DRAM的创新的异构存储管理方法。
机译:商品设备中的固有物理不可克隆功能(PUF)传感器
机译:商品设备上的快速DRAM PUFS