CCD; p-channel; cryogenic irradiation; proton irradiation; CTI; CTE; trap pumping; annealing;
机译:低温下生物样品中辐射损伤的起源和温度依赖性
机译:在40 K至150 K的低温下蛋白质晶体的辐射损伤
机译:在低温下评估三栅极FinFET的直流和低频噪声性能
机译:在P沟道CCD204S的低温温度下评估性能和辐射损伤效应
机译:辐射损伤对高温超导体(氧化钇钡铜氧化物)涡流动力学的影响。
机译:低温下生物样品中辐射损伤的起源和温度依赖性
机译:评估P沟道CCD204S的低温温度下的性能和辐射损伤效应