Soldering; Testing; Kinetic theory; Microstructure; Substrates; Electromigration; Metallization;
机译:回流过程中Sn-3.0Ag-0.5Cu-xTiO_2 / Cu焊点中Cu_6Sn_5晶粒的成熟生长动力学
机译:通过在无铅焊点中使用Ag作为阻挡层,有效抑制电迁移引起的Cu溶解
机译:回流期间BGA Sn-Pb和Sn-Ag焊料与Cu基板的溶解动力学
机译:电迁移和扩展回流条件下焊点中铜溶解机理和动力学的比较研究
机译:热电迁移对倒装芯片无铅焊点中铜溶解和金属间化合物形成的影响
机译:Cu / Sn-3.0AG-0.5Cu / Cu / Cu / Cu / Cu焊点在电迁移期间锯齿状阴极溶解的结晶特征效应
机译:电迁移对焊点形成的影响:99.3sn-0.7Cu与96.5sn-3.0ag-0.5Cu无铅焊料的比较