automatic test pattern generation; circuit testing; ATPG; capture power reduction; capture-induced yield loss; fault detection; flip-flops; high power dissipation; scan testing; test cubes; test generation method;
机译:一种新颖的Atpg方法,可降低扫描测试期间的捕获功率
机译:面向观察的ATPG和扫描链禁用可降低捕获功率
机译:XStat:统计X填充算法,可降低扫描测试中的峰值捕获功率
机译:一种新的ATPG方法,可有效降低扫描测试期间的捕获功率
机译:基于区域划分测试的集成电路中降低发射和捕获功率的可测试性支持设计。
机译:基于多因素降维的上位分析的计算有效假设检验方法
机译:iFill:一种基于冲击的X填充方法,用于在基于速度扫描的测试中减少移位和捕获功率