Mikroskobik Sistemlerde Odaklama Araliginin Genisletilmesi ile Optimum Odaklama

摘要

Isikli mikroskobik sistemlerde kisitli odaklama araligi bulunmaktadir. Sadece odaklama araligina dusen nesneler net gorunmektedir. Mikroskop uzerinde incelenen numunenin boyutu odaklama araligindan buyuk oldugu durumlarda, goruntulenen numune alaninin belirli bolgeleri bulanik gozukmekte ve tum alani odaklanmis goruntu elde edilemektedir. Yapilan calismada bu problemi engellemek ve mikroskobik sistemlerde optimum odaklamaya sahip goruntu uretmek amaclanmaktadir. Literaturdeki calismalarda bu islem Z ekseninde rastgele sayida alinan goruntuler kullanilarak gerceklestirilen odaklama araligin artirilmasiyla basarilmistir. Onerilen calismada odaklama araligi artirilmasi surecinde optimum sayida goruntu kullanilarak odaklama saglanmaktadir. Bu surecte kullanilan imge serisindeki goruntu sayisi rasgelelikten cikarilmakta ve belirli matematiksel modele oturtulmaktadir. Gerceklestirilen calisma referans goruntunun belirlenmesi, imge serisinin olusturulmasi ve elde edilen imge serisindeki goruntulerin fuzyonu olmak uzere uc ana asamadan olusmaktadir. Elde edilen sonuclar nitel ve nicel karsilastirilmakta ve literaturdeki calismalara ek olarak incelenen numunenin odaklama araligina denk getirilmesi garanti edilmektedir. Onerilen calisma plevral efuzyon sivisi sitopatolojik inceleme amacli hazirlanmis numuneden elde edilmis imge dizilerinde test edilmistir.