机译:缺陷深度和键合应力对磁性巴沙因噪声和漏磁信号的影响
机译:Luders频带对Barkhausen磁噪声和磁通量泄漏信号的影响
机译:吕德斯带对巴克豪森磁噪声和磁通量泄漏信号的影响
机译:通过磁通量泄漏,巴克豪森磁噪声和中子衍射监测到的模拟腐蚀坑附近的应力集中系数的变化
机译:缺陷诱导应力集中的中子衍射和巴克豪森磁噪声评估。
机译:基于自发磁通量泄漏的电缆腐蚀宽度预测方法的研究
机译:磁通量泄漏,巴克豪森磁噪声和中子衍射监测的影响坑缺陷附近应力集中的因素
机译:线压力,磁性和测试条件对磁通量泄漏信号的影响。年度报告,1995年5月至1996年4月