TEM; grain boundary (GB); grain boundary plane; Si;
机译:一种完全表征晶界宏观几何的方法
机译:从三键结的几何计算宏观晶界参数空间上晶界能分布的方法
机译:TEM中晶界几何形状的表征,例如Si薄膜
机译:一种完全表征晶粒边界宏观几何形状的方法
机译:砂层内部的晶粒尺寸和形状分布,晶粒排列和孔几何:表征和方法学。
机译:用相关显微镜方法获得的数据集用于描绘低合金高性能钢中的奥氏体晶界和表征奥氏体晶粒度
机译:从三连接几何计算宏观边界参数空间晶界能量分布的方法
机译:用透射电子显微镜表征外部晶界位错和晶界位错源。最终报告,1979年6月1日至1981年5月31日