首页> 外文会议>Proceedings of the 56th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts >Microswitch Lifecycle Test Fixture for Simultaneously Measuring Contact Resistance (Rc) and Contact Force (Fc) in Controlled Ambient Environment
【24h】

Microswitch Lifecycle Test Fixture for Simultaneously Measuring Contact Resistance (Rc) and Contact Force (Fc) in Controlled Ambient Environment

机译:用于在受控环境中同时测量接触电阻​​(Rc)和接触力(Fc)的微动开关生命周期测试夹具

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