built-in self-test (BIST); linear feedback shift register (LFSR); low power test; scan-based test; single and multiple scan-chains; weighted switching activity (WSA);
机译:在最佳簇大小下具有更平滑和扫描链重排序的低功耗BIST
机译:基于折叠计数器的低功耗多种子编码BIST设计
机译:用于BIST设计的矢量插入TPG,具有低峰值功耗
机译:多级平滑器可在单个和多个扫描链BIST中实现低功耗
机译:使用单电子器件的低功耗多值逻辑SRAM单元。
机译:高密度VRRAM阵列的单个侧壁中的低功耗纳米丝ECM和VCM单元
机译:具有更平滑和扫描链重新排序的低功率BIsT