【24h】

An approach to single event testing of SDRAMs

机译:SDRAM的单事件测试方法

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摘要

A testing approach based on error-pattern identification with a graphical mapping and color-coding of the full SDRAM during single-event characterization is proposed. Results about unique SEFI modes and the role of temperature are discussed.
机译:提出了一种基于错误模式识别的图形化映射和全事件记录的彩色编码的测试方法。讨论了有关独特SEFI模式和温度作用的结果。

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