首页> 外文会议>Reliability and Quality in Design >Honeywell Radiation Hardened 32-Bit Processor: A Fault Tolerant and Testable Processor

【24h】

Honeywell Radiation Hardened 32-Bit Processor: A Fault Tolerant and Testable Processor

机译：霍尼韦尔辐射增强型32位处理器：容错且可测试的处理器

获取原文

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

We will present an overview of the testability and fault tolerance aspects of the Honeywell (HI) Radiation Hardened 32-Bit Processor (RH-32).

机译：我们将概述霍尼韦尔（HI）辐射硬化32位处理器（RH-32）的可测试性和容错性。

著录项

来源
《Reliability and Quality in Design》|1998年|p.14-18|共5页
会议地点
作者
John R. Samson; Jeffrey A. Mogensen; Julie Brichacek;
展开▼
作者单位

展开▼
会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类一般工业技术;
关键词

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Microprocessors: New 32-bit microprocessors in CMOS perform virtual-memory functions on the chip and show promise in applications ranging from multiprocessing to fault-tolerant computing [J] . Zorpette G. IEEE Spectrum . 1985,第1期

机译：微处理器：CMOS中新的32位微处理器执行芯片上的虚拟内存功能，并在从多处理到容错计算的应用中显示出希望
2. A radiation-hardened 32-bit microprocessor based on the commercial CMOS process [J] . Yoshioka S., Kamimura H. IEEE Transactions on Nuclear Science . 1994,第6期

机译：基于商业CMOS工艺的防辐射32位微处理器
3. A radiation-hardened 16/32-bit microprocessor [J] . Hass K.J., Treece R.K. IEEE Transactions on Nuclear Science . 1989,第6期

机译：防辐射的16/32位微处理器
4. Honeywell Radiation Hardened 32-Bit Processor: A Fault Tolerant and Testable Processor [C] . Julie Brichacek, Jeffrey A. Mogensen, John R. Samson ISSAT international conference on reliability and quality in design . 1998

机译：霍尼韦尔辐射硬化32位处理器：容错和可测试的处理器
5. A fault-tolerant approach to test control utilizing dual redundant processors. [D] . Dabney, Richard W. 2006

机译：一种利用双冗余处理器进行测试控制的容错方法。
6. Fault-tolerant interface between quantum memories and quantum processors [O] . Hendrik Poulsen Nautrup, Nicolai Friis, Hans J. Briegel -1

机译：量子存储器和量子处理器之间的容错接口
7. Radiation testing of the Configurable Fault Tolerant Processor (CFTP) for space-based applications [O] . Coudeyras James C. 2005

机译：针对空间应用的可配置容错处理器（CFTP）的辐射测试

Honeywell Radiation Hardened 32-Bit Processor: A Fault Tolerant and Testable Processor

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅