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Determination of High Energy Neutron Voltage Stress Margins for High Voltage IGBT and Diode Pairs from Two Manufacturers using Energetic Particle Induced Charge Spectroscopy, EPICS

机译:使用能量粒子感应电荷光谱法(EPICS)确定两家制造商生产的高压IGBT和二极管对的高能中子电压应力裕度

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摘要

The use of high voltage [above 200V] electronic IGBT drives is increasing. To avoid destructive SEB of high voltage devices in the atmospheric neutron radiation environment, derating is recommended. The EPICS method is used to investigate actual IGBT and diode voltage stress margins for 2 manufacturers, both below and at SEB
机译:高压[200V以上]电子IGBT驱动器的使用正在增加。为避免在大气中子辐射环境中高压设备的SEB造成破坏,建议降额使用。 EPICS方法用于调查SEB以下和SEB两家制造商的实际IGBT和二极管电压应力裕度

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