S-parameters; calibration; multiport networks; network analysers; calibration procedure; device under test; error correction procedure; planar microstrip devices; planar multiport devices; scattering-parameters measurement; switching network; systematic error elimi;
机译:平面多端口设备散射参数的校准测量方法
机译:晶片上器件表征应用在宽带散射参数测量中线串联并联校准的精度提高
机译:扩展散射参数方法表征线性时变微波装置
机译:用两端口网络分析仪测量多端口散射参数的有效方法
机译:用于微波设备大信号表征的多端口测量系统。
机译:超快速扰动图作为测试多端口光子设备的定量工具
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机译:siC离散功率器件 - 平面6H-siCaCCUFET的分析和优化;平面横向沟道siC垂直高功率JFET;平面横向通道mEsFET-a新型siC垂直功率器件;通过热壁化学气相沉积Chara生长