digital circuits; VLSI; built-in self test; binary decision diagrams; discrete event systems; fault diagnosis; circuit analysis computing; circuit CAD; BIST approach; online monitoring; digital VLSI circuit; CAD tool; digital circuits design; fault detection; fault diagnosis; discrete event systems; online detection; stuck-at faults; ordered binary decision diagrams; 0.18 micron;
机译:数字VLSI电路在线监测的一种正式方法:理论,设计和实现
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