机译:从HEMT和PHEMT中的脉冲I-V曲线和脉冲S参数提取的跨导中获得的差异
机译:从脉冲I-V /脉冲S参数测量直接提取分布式非线性FET模型
机译:使用脉冲式I-V测试来表征RF设备
机译:从脉冲S参数和PHEMT设备的脉冲I-V曲线获得的跨导的差异
机译:集成电路设备的高频测量和互连(S参数,采样示波器,光电导体,脉冲激光,皮秒)
机译:通过在不同温度下使用脉冲I-V方法准确提取WSe2 FET参数
机译:用于各种半导体器件的直流和脉冲I-V表征的通用测试仪
机译:用于脉冲网络的s参数测试装置