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The Design of RFID Testing Channel Based on Direct Digital Synthesis Chip

机译:基于直接数字合成芯片的RFID测试通道设计

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摘要

In recent years, radio frequency identification (RFID) technology has been widely used in many fields. Thus,how to reduce the price of testing RFID chip become a key problem which must be considered by chip manufacturer and test equipment supplier now. As an important part of carrier generator, direct digital synthesis chip play a key role in RFID testing system. In the paper, a new and economical design of RFID testing channel based on direct digital synthesis chip is discussed.
机译:近年来,射频识别(RFID)技术已广泛应用于许多领域。因此,如何降低测试RFID芯片的价格成为当前芯片制造商和测试设备供应商必须考虑的关键问题。作为载波发生器的重要组成部分,直接数字合成芯片在RFID测试系统中起着关键作用。本文讨论了一种基于直接数字合成芯片的新型,经济的RFID测试通道设计。

著录项

  • 来源
    《》|2007年||共3页
  • 会议地点
  • 作者

    Hong Ying-zheng; Chen Wei;

  • 作者单位
  • 会议组织
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