机译:使用Fowler-Nordheim编程和热孔擦除方法的70 nm氧化硅-氮化物-氧化硅-非易失性存储器件
机译:基于氮化物的电荷陷阱闪存(CTF)存储设备中CHEIProgram / HHI擦除循环行为的通道宽度依赖性研究
机译:循环热电子注入编程/热孔擦除氧化硅-氮化物-氧化硅存储器中的亚阈值斜率和跨导退化模型
机译:基于氮化物的FINFLASH存储装置,使用多级热载流程/擦除
机译:闪存可擦可编程只读存储设备中的热载流子效应。
机译:编程/擦除操作对基于氧化物的电阻式开关存储器性能的影响
机译:可擦除可编程只读存储设备
机译:用于双光子3-D光存储器件的新型读/写/擦除材料