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机译:GIDL电流产生的源极/漏极热电子在NAND闪存中的一种新的编程干扰现象
Jae-Duk Lee; Chi-Kyung Lee; Myung-Won Lee; Han-Soo Kim; Kyu-Charn Park; Won-Seong Lee;
机译:虚拟源/漏NAND闪存中编程的相邻单元引起的阈值电压干扰的研究
机译:虚拟源极/漏极NAND闪存中单元栅极长度波动引起的阈值电压和开启单元电流的变化
机译:NAND闪存器件的新的源/漏热载流子注入干扰
机译:NAND闪存中的新编程干扰现象通过GIDL电流产生的源/排水热电子
机译:使用NAND闪存的硬件安全原语
机译:非对称编程:基于MLC NAND闪存的传感器系统的高度可靠的元数据分配策略
机译:通过擦除NAND闪存的擦除验证期间的应力降低最小化的扰动最小化
机译:在NAND闪存控制器和多个NAND闪存模块之间具有可编程连接的NAND闪存系统及其方法
机译:在漏极/源极选择晶体管与相邻闪存单元之间的节点处测量NAND闪存的沟道升压电压的结构和方法
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