strontium compounds; bismuth compounds; random-access storage; semiconductor device reliability; FeRAM; data retention time; reliability; hydrogen barriers; 1.1 V; 0.18 micron; 1000 h; 125 degC; SrBi/sub 2/Ta/sub 2/O/sub 9/Nb/sub 2/O/sub 9/;
机译:首款基于SBT的0.18微米嵌入式FeRAM技术,无氢损伤堆叠式电池结构
机译:具有参考电压方案和多层屏蔽位线结构的基于0.9V 1T1C SBT的嵌入式非易失性FeRAM
机译:使用电荷补偿技术的0.18- / splμ/ m无损读出FeRAM
机译:基于0.18 / SPL MU / M SBT的嵌入式FERAM以低电压为1.1V
机译:全同嵌入法求解低压大角度潮流算法
机译:Cav3-KCa1.1复合物对KCa1.1电流的低压激活
机译:采用0.18- / spl mu / m CMOS的5.2-GHz RF功率采集器,用于植入式眼压监测