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An experimental study comparing the relative effectiveness of functional, scan, IDDq and delay-fault testing

机译:比较功能,扫描,IDDq和延迟故障测试的相对有效性的实验研究

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摘要

This paper describes an experiment in which various semiconductor test methodologies (stuck-fault, functional, delay and IDDq) are applied to an ASIC device. The goal of this project is to provide the data that will enable manufacturers to optimize their application of the various tests. This project was supported through SEMATECH (Project S-121, "Semiconductor Test Method Evaluation ").
机译:本文介绍了一种将各种半导体测试方法(粘滞故障,功能,延迟和IDDq)应用于ASIC器件的实验。该项目的目的是提供使制造商能够优化其各种测试应用程序的数据。该项目得到了SEMATECH(项目S-121,“半导体测试方法评估”)的支持。

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