机译:具有粗糙表面的分层结构的散射:偏振光散射仪测量值与理论值的比较
机译:具有粗糙表面的分层结构的散射:偏振光散射仪测量值与理论值的比较
机译:Mueller矩阵代数在极化测量分析中的应用
机译:使用全极化光学散射计的穆勒矩阵元件的测量
机译:使用MUELLER矩阵椭偏仪对粗糙基体进行薄膜测量
机译:柔性极化探针用于3××3 Mueller基质的生物组织测量
机译:多功能光学偏振散射仪的描述,测量穆勒矩阵的所有16个元素,用于反射和传输:应用于散射横截面,椭圆仪参数,光学活动和复杂手性参数的测量
机译:使用新型红外波长可调穆勒 - 矩阵偏振光散射仪测量纳米结构光学材料(预印本)。