Low Power Wireless Test Group, High Performance Analog Division, Texas Instruments, Inc., Dallas, TX 75243, USA;
机译:生产中锁相环锁定时间的并行测试
机译:具有动态相移锁相环的dq电压降控制方法,用于逆变器并联,而各个逆变器之间没有任何通信
机译:锁模激光器锁相环的环路增益和带宽的实时快速测量
机译:准确测量生产中锁相环锁定时间
机译:测试嵌入式锁相环和延迟锁环。
机译:锁相环在睡眠期间精确定时地进行声刺激
机译:用于测试变频脉冲锁相环仪器的人类头骨的基准测试模型