Tallinn University of Technology, Ehitajate tee 5,19086 Tallinn, Estonia;
Department of Physics,Tartu University.Tartu,Estonia;
Department of Natural Sciences, Tallinn University,Tallinn,Estonia;
lnstitute of Chemical Physics and Biophysics, Tallinn,Estonia;
Si-SiO_2 interface; EPR; NMR; surface photovoltage;
机译:Si-SiO_2结构中杂质与点缺陷的相互作用及其对界面性能的影响
机译:点缺陷与Si-SiO_2系统中杂质的相互作用及其对界面性能的影响
机译:点缺陷与Si-SiO2系统中杂质的相互作用及其对界面性能的影响
机译:Si-SiO_2结构中与点缺陷的氢相互作用及其对界面性质的影响
机译:氢与Si界面缺陷的相互作用
机译:抗原 - 抗体界面特性:53个非冗余结构的组成残余相互作用和特征
机译:献给纪念UlrichGösele教授。 Si-SiO2体系中点缺陷与杂质的相互作用及其对界面性质的影响
机译:异质外延Inp电池结构中间隙Zn缺陷的氢钝化及对器件特性的影响