Institut Charles Gerhardt - Place Eugene Bataillon - C. C. 03 - 34095 Montpellier Cedex 5 - France;
rnInstitut Charles Gerhardt - Place Eugene Bataillon - C. C. 03 - 34095 Montpellier Cedex 5 - France;
rnInstitut Charles Gerhardt - Place Eugene Bataillon - C. C. 03 - 34095 Montpellier Cedex 5 - France;
rnInstitut Charles Gerhardt - Place Eugene Bataillon - C. C. 03 - 34095 Montpellier Cedex 5 - France;
rnSciences Chimiques de Rennes - Case 1007- Universite de Rennes I-35042 Rennes Cedex- France;
rnSciences Chimiques de Rennes - Case 1007- Universite de Rennes I-35042 Rennes Cedex- France;
rnLaboratoire d'Energetique et de Mecanique Theorique et Appliquee- BP239 - 54506 Vandoeuvre Les Nancy Cedex- France;
rnLaboratoire de Physique des Lasers - Universite PARIS NORD - Institut Galilee - 99, Av. J.B;
telluride materials; IR applications; planar waveguides;
机译:基于Te2As3Se5厚膜的波导用于空间干涉测量
机译:基于组合光谱干涉法和空间记录光谱椭圆形测定法的多膜结构的单次表征
机译:纳米厚金膜的共面波导
机译:基于流厚膜的空间干涉测定法的波导
机译:毫米波基板集成波导和厚膜技术中的组件
机译:薄膜/厚膜组合方法实现铝铸件集成铝基应变片传感器
机译:用于波导激光器件的厚多层石榴石晶体薄膜的脉冲激光沉积
机译:使用物种选择性薄膜和波导塞曼干涉测量法进行实时化学检测