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New Scanning Mode of Scanning Tunneling Microscopy

机译:扫描隧道显微镜的新扫描模式

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摘要

The coincidence scanning mode has been developed by analyzing feedback equations for constant-current scanning and imaging surfaces with atomic resolution with the new mode.This mode can be almost applied to the feedback control of all sorts of SPM instuments, and reduces the scanning time to 60%.
机译:通过使用新模式分析恒流扫描和以原子分辨率成像的表面的反馈方程式开发了同时扫描模式,该模式几乎可以应用于各种SPM仪器的反馈控制,并减少了扫描时间60%。

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