Goodrich Corporation, SUI, 3490 Route 1, Building 12, Princeton, NJ, USA 08540;
InGaAs; dark current; shortwave infrared; imaging; focal plane array; FPA;
机译:浅与深度蚀刻对长波长红外检测的暗电流和焦平电流轴的暗电流和量子效率的影响
机译:基于InAs / InGaAs / InAIAs / InP量子点红外光电探测器的高工作温度320 X 256中波长红外焦平面阵列成像
机译:使用低暗电流InGaAs检测器阵列和垂直腔表面发射激光照明器的短波红外成像
机译:用于低光级可见短波红外成像的焦平面阵列的超低暗电流IngaAs技术
机译:存在大暗电流时用于焦平面阵列成像的新颖读出方法。
机译:DMD掩模构造可抑制基于中波红外焦平面阵列的压缩成像的块状结构伪影
机译:InGaAs / InP焦平面阵列中InP MIE谐振器的超低光谱反射