Department of Electrical and Electronic Engineering Tokyo Institute of Technology Japan;
Department of Electrical and Electronic Engineering Tokyo Institute of Tec;
Bridge circuits; Contact resistance; Arc discharges; Switches; Anodes; Cathodes;
机译:在混合直流开关中的Cu-W覆盖触点材料的状态接触电阻和耐弧形换向特性
机译:电弧放电对电磁接触器AgNi触头接触电阻的影响
机译:开发铜钨包层 - 触点400 A-rell少开关的混合直流开关
机译:电弧放电对混合直流开关中接触腐蚀和接触电阻的影响
机译:研究RF -MEMS开关中使用的接触电阻和金属触点的损坏。
机译:低力下MEMS和NEMS DC开关中接触电阻的不稳定性:外来膜在接触表面上的作用
机译:金属相弧放电对ag触头电弧腐蚀的作用
机译:接触电阻以及材料和工艺变量对开关装置中接触电阻和接触可靠性的影响